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扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope, STM)是一种基于量子隧穿效应的高分辨率表面分析仪器,能够在原子尺度上直接观测导电...
LEEM是广泛应用于材料科学领域的高技术分析仪器,能集原位观测、超快及光电子成像于一体,即我们所称的“长眼睛的超级XPS“,能对薄膜以及二维材料、锂离子电池、钙...
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